カリキュラムモデル
分類番号 E215-033-3
| 訓練分野 | 電気・電子系（E） |
|---|---|
| 訓練コース | 高周波の特性とデバイス測定・評価技術 |
| 訓練対象者 | プリント基板設計者、高周波回路設計に従事し、今後職場のリーダーの役割を担う者 |
| 訓練目標 | 高周波領域におけるデバイス特性の実測定を通して、パラメータ解析や各種伝送線路の特性評価など実践的な技術を習得することにより、企業で製作している製品の改善や高周波回路設計の効率化に関する業務を遂行できる。 |
| 教科の細目 | 内容 | 訓練時間（H） |
|---|---|---|
| １．高周波に関する概要 | （１）集中定数回路と分布定数回路 （２) プリント基板の特性とインピーダンスマッチング （３）インピーダンスマッチングの評価 |
3 |
| ２．測定実習 | （１）分布定数回路の測定 （２）インピーダンスマッチング実習 |
3 |
| ３．高周波測定実習 | （１）高周波測定法とパラメータ イ．高周波測定の動作原理（ネットワークアナライザー活用） ロ．反射係数ρの測定と評価 ハ．Ｓパラメータ （２）高周波測定用付属品 イ．アッテネータの有効活用 ロ．方向性結合器 ハ．インピーダンス変換器 ニ．高周波用同軸コネクタ （３）デバイスの反射特性、透過特性の測定 （４）高周波用同軸コネクタの測定 （５）高周波測定における発生誤差と改善 |
5 |
| ４．総合実習 | （１）実習課題の仕様について（高周波アンプの特性評価等） （２）回路特性の測定と評価 イ．伝送パターン特性インピーダンス ロ．電子部品の高周波測定と評価 ハ．分布定数回路（バンドパスフィルタ）によるフィルタ特性 （３）改善及び運用管理 |
6 |
| ５．確認・評価 | （１）実習の全体的な講評及び確認・評価 | 1 |
| 訓練時間合計 | 18 |
| 使用器具等 | ハードウエア：ネットワークアナライザ |
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